Коротковолновая инфракрасная камера - это камера, используемая для съемки в диапазоне коротковолнового инфракрасного спектра.Коротковолновый инфракрасный спектр обычно колеблется от 1 до 3 микрон.Коротковолновые инфракрасные камеры могут улавливать инфракрасное излучение, невидимое человеческому глазу, поэтому они широко используются во многих областях.
1 Проверка полупроводниковых пластин
Пластина - это тонкая подложка из полупроводникового материала, используемая при изготовлении электронных интегральных схем.Существует много типов полупроводниковых материалов, среди которых наиболее часто используемым полупроводниковым материалом является кремний (Si).
В процессе производства пластин могут возникать различные дефекты, такие как остаточное напряжение, накапливающееся в различных соединениях, что приводит к появлению трещин внутри пластин.Если эти дефекты не могут быть обнаружены до начала последующего процесса изготовления микросхемы, это повлияет на выход готовой микросхемы и увеличит производственные затраты.Используя характеристики коротковолнового инфракрасного излучения, которое может проникать сквозь кремниевую пластину, дефекты внутри кремниевой пластины могут быть обнаружены с помощью коротковолновой инфракрасной камеры, что предотвращает попадание некачественных пластин в последующие звенья и значительно снижает производственные затраты.
2 Сортировка предметов
Коротковолновый инфракрасный диапазон соответствует комбинированной частоте и удвоению частоты колебаний молекулярных связей. Обнаруживая поглощение коротковолнового инфракрасного излучения различных длин волн изделием, можно проанализировать такую информацию, как тип и дефекты изделия.Поэтому коротковолновые инфракрасные камеры также широко используются при сортировке круп, чая, пластмасс и т.д.
3 коротковолновое инфракрасное измерение температуры
Для целей с высокой температурой, превышающей несколько сотен градусов, коротковолновое инфракрасное измерение температуры обладает преимуществами стабильного измерения температуры, высокой точности и высокой скорости отклика по сравнению с широко используемым в настоящее время неохлаждаемым длинноволновым инфракрасным измерением температуры.Использование коротковолновой камеры линейного сканирования для получения изображения и измерения температуры быстро движущихся объектов на конвейерной ленте позволяет в значительной степени устранить влияние эффекта "хвоста" и получить коротковолновое инфракрасное изображение с четким качеством изображения и точным измерением температуры.
4 Обнаружение скрытых трещин в фотоэлектрических панелях
В процессе производства солнечных элементов из кристаллического кремния могут возникать такие дефекты, как трещины и царапины. Эти дефекты ограничивают эффективность фотоэлектрического преобразования и срок службы батареи. Однако большинство из этих дефектов трудно обнаружить невооруженным глазом или при визуализации в видимом свете.Используя характеристики электролюминесценции (EL) и фотолюминесценции (PL) кремниевых солнечных элементов, сами солнечные элементы могут излучать коротковолновый инфракрасный свет, применяя прямое смещение или возбуждение лазерным излучением.Свет, излучаемый дефектной областью, будет значительно отличаться от света, излучаемого нормальной областью. Обнаружив солнечный элемент в возбужденном состоянии с помощью коротковолновой инфракрасной камеры, можно эффективно обнаружить его внутренние дефекты.
